边界扫描测试是电子设计自动化（EDA）中用于高效测试集成电路（IC）的重要技术。以下是常用的边界扫描测试软件及相关工具的总结：

一、主流商业工具

XJTAG

- 由剑桥大学开发，功能强大且集成硬件调试器与上位机软件，支持多设备调试、波形分析等高级功能，但价格较高。

- 特点：支持最多4个TAP接口，TCK频率高达166MHz，电压测量范围1.1-3.3V，提供开放的DLL API接口。

TopJTAG

- 免费开源工具，基于J-Link、USB-Blaster等仿真器，界面简洁易用，适合基础边界扫描测试需求。

- 功能：支持IO读写、波形显示、脉冲计数等，还提供CFI Flash编程功能。

二、国产及特色工具

SPLD-BSCAN

- 玖熠科技自主研发，基于自主研发的BScan Insertion算法，提升国产DFT可测性设计能力。

三、其他相关工具

J-Link/VUSB-Blaster：

硬件接口设备，常与XJTAG、TopJTAG等软件配合使用。

Corelis Boundary Scan Tools：基于IEEE 1149标准，支持与多种ICT结合，提供coverage report分析。

四、应用场景补充

FPGA边界扫描：如基于Xilinx FPGA时，可使用相同工具链实现边界扫描功能。

在线测试工具：如飞思德提供的在线测试解决方案，支持标准边界扫描协议。

总结

选择边界扫描测试工具时需结合预算、功能需求及硬件平台。对于复杂项目推荐XJTAG，日常测试可选TopJTAG；国产化需求可考虑SPLD-BSCAN；FPGA开发则需配套Corelis等工具。