一、主流品牌及型号

GALVANOTEST

- 提供GALVANOTEST 2000和GALVANOTEST 3000型号，支持70种以上镀层/基体组合测量，具备自动校准、多参数设置及数据存储功能，测量范围0.05-75μm。

EPK（德国）

- OU3500系列是代表性产品，测量速度比同类TT系列快6倍，精度达A级标准（±1%），稳定性表现优异，且操作界面全中文。

时代欧普（中国）

- 新型镀层测厚仪（如OU3500替代型号），采用微机技术，分辨率0.1μm，精度1%，稳定性及抗干扰能力突出，支持中文操作。

二、其他知名品牌

Qnix（德国）：

4200系列，高精度测量设备，适用于复杂镀层结构检测。

FISCHER（德国）：MPO系列，工业级测厚仪，数据采集与处理功能强大。

DeFelsko（美国）：PosiTector 6000，高分辨率无损测厚仪，适合薄层及复杂基体测量。

Elcometer（英国）：456系列，便携式测厚设备，适合现场快速检测。

Oxford（英国）：CMI233，高精度测厚仪，支持多种金属参数预设。

三、选型建议

测量需求：若需高精度（如A级标准），优先考虑EPK或时代欧普；若需高速度，EPK和时代欧普优势明显。

应用场景：薄层测量推荐GALVANOTEST 3000或X射线法；复杂基体结构可选FISCHER MPO系列。

操作偏好：中文操作界面更便捷，建议选择时代欧普或国内品牌。

以上品牌均通过市场验证，可根据具体需求选择合适型号。